UI-X6220是(shì)一(yī)個(gè)專用(yòng)于MEMS∑©γ芯片的(de)數(shù)字功能(néng)測試闆§♥卡，可(kě)用(yòng)于多(duō)功能(néng)測試↕¥α，量産測試等每張闆卡有(yǒu)32個(gè)通(tōng)道(dàoβφ≈®)，每個(gè)通(tōng)道(dào)有(yǒu)PMU功能(néα≤↑ng)，通(tōng)過多(duō)闆卡級聯，能(₽✔néng)擴展到(dào)最多(duō)512個(♠→≈gè)通(tōng)道(dào)，可(kě)βΩ♥★以進行(xíng)DC，AC相(xiàng)關參數(shù)測σ& ≥試

  每個(gè)數(shù)字通(tōng)道(dào)有(yσ>αǒu)獨立的(de)可(kě)編程功能(néng)， 可(kě)以用®‌↕"(yòng)作(zuò)drive hi, drive l&✘‍o, sense hi, sense lo和(hé)load vaα"lue，另外(wài)，每個(gè)通(tōng)道(dào)提供了(l' Ωe)高(gāo)精度測量單元(PMU)，以便用(yòng)戶能(néng)≤♠ε進行(xíng)DUT(device under test)的(d©↔e)測試，包括參數(shù)測試，并行(xíng)測試等>​δ 

  UI-X6220是(shì)基于PXI架構的(de)闆卡，σ♦↔具有(yǒu)多(duō)功能(néng)測試能(né✘α∞ng)力，提供了(le)I2C/SPI功能(≥÷γ néng)，counter計(jì)數(shù)器(qì)功•φ™能(néng)，每張闆卡能(néng)提供16si≤♦te的(de)I2C測試，8site的(de)SPI測試，通(tōngσ∏')過級聯，可(kě)以并行(xíng)測試高(g₹≠ āo)達128site，同時(shí)，UI-X6220'≥÷£也(yě)有(yǒu)pattern memory的(de)功能(n₩→σδéng)，每通(tōng)道(dào)32M ，能(néng)進 ​₽'行(xíng)10M的(de)動态數(shù)字功能(néng)測試

  基于Per pin per  ‌&site的(de)架構，能(néng)支持ATE的(de)功能(néng)↔$測試，可(kě)擴展性強，支持多(duō)種軟件(jiàn)開(γ≈kāi)發環境，能(néng)快(kuà‌≠i)速幫助客戶進行(xíng)開(kāi)發，性價比高(gβ÷āo)，能(néng)為(wèi)客戶減小(xiǎo)開ε★¶(kāi)發成本，快(kuài)速切入市✘₹πσ(shì)場(chǎng)，同時(shí)，該闆卡也₩β (yě)可(kě)以和(hé)其他(tā)功能(néng)↓×闆卡一(yī)起配合使用(yòng)，比如(rú)RF闆卡，SMU闆 '✘卡，多(duō)功能(néng)數(shù)模闆卡等₩→απ，能(néng)提供完整的(de)基于PXI的(de±↔")測試方案，能(néng)應用(yòng)到(dào)&nΩ✔‍bsp; MEMS測試，傳感器(qì)芯片測試，RF芯片測試，電(diπ≠₩<àn)源管理(lǐ)芯片測試，多(duō)功能(néng)芯片測©<₽試等 

特點

标準PXI總線架構

每闆32個(gè)PMU

16個(gè)I2C master，可(kě)達4&φ€¥00kHz時(shí)鐘(zhōng)速率

8個(gè)SPI master，可(kě)達10MHz時(shí≈♥)鐘(zhōng)速率

16個(gè)32bit計(jì)數(shù)器(qì),可(kě)δ" 達10ns

時(shí)鐘(zhōng)速率可(kě)達1≠₹∏≈0MHz

32個(gè) I/O通(tōng)道(d≥↕₩✘ào)，每通(tōng)道(dào)PMU↓λε₹功能(néng) 

電(diàn)壓範圍-1V到(dào)+10V

每個(gè)pin獨立，支持any pin to any site

每個(gè)pin獨立的(de)PMU功能(néng)，獨立π♦的(de)DC level

操作(zuò)系統支持Windows 7/10 等

支持LabView/ LabWindows 等

支持主/從(cóng)架構通(tōng)信模式

目标應用(yòng)

MEMS芯片測試

G-SENSOR 測試

I2C /SPI功能(néng)測試

自(zì)動測試設備(ATE)

數(shù)字功能(néng)測試