PXI-X6330是(sh₽∞βσì)一(yī)款國(guó)産化(huà)自(zì)主‌​¶研發的(de)高(gāo)性價比數(shù)字源測δ©₹量模塊 (SMU)。主要(yào)用(yòng)于對(↑∑∑duì)各種數(shù)字和(hé)混合信号集成電(diàn)路(lù"→★✔)電(diàn)源系統的(de)測試、特征分(fēn)析。模≠∑塊具有(yǒu)電(diàn)壓電(diàn)流四象限輸出功能(né÷¥π₹ng)，可(kě)以提供正電(diàn)壓和(hé)正電(dià ✔∞®n)流（1象限）、負電(diàn)壓和(hé)正電(diàn)流（2象限）、✔♦™←負電(diàn)壓和(hé)負電(diàn)流（3象限）或者正電(d"≥αiàn)壓和(hé)負電(diàn)流（4象限♣¥☆）。借助于數(shù)字源測量模塊，用(yòng)戶可(kě)以針對(dσ<σαuì)任意負載自(zì)定義任意電(diàn)壓或者電(✘₽diàn)流輸出，且不(bù)出現(xiàn)過壓βα或振蕩，同時(shí)能(néng)夠測量負載的(de&↔'™)電(diàn)壓或電(diàn)流

PXI-X6330是(shì)标準的(de)3U PXI闆卡，具有(yǒu)♣∏<≈高(gāo)精度V/I 源測功能(néng)，‌λ4個(gè)通(tōng)道(dào). 所有(yǒu)通(tōng)道(β♥dào)都(dōu)具有(yǒu)高(gāo)精度的≥‌(de)可(kě)編程電(diàn)壓電(dià∞©βn)流功能(néng)，電(diàn)壓電(diàn㣧&)流可(kě)以從(cóng)–11V到(d✔ •✘ào)+11V@2000mA. 所有(yǒu)通×λ  (tōng)道(dào)可(kě)以直接→±♥連到(dào)外(wài)部DUT上(s©↑≠£hàng)，連接器(qì)是(shì)25pin的(de)D-Sub标準接 σ&口，包括4個(gè)force通(tōng)道(dào)，4個(‍™>​gè)sense通(tōng)道(dào)和(♥π≥'hé)地(dì).   ©≈; 

    UI-X6330可(k≤©✘ě)以用(yòng)來(lái)構建自(zì)動測試系統，測試效率高↑"£↓(gāo)，可(kě)以縮減硬件(jiàn)測試時(shí)→♦間(jiān)，軟件(jiàn)集成化(h ∏uà)高(gāo)，開(kāi)發容易快(kuài). 基于 λPXI架構, UI-X6330可(kě)以和(hé)其他׶≠↓(tā)闆卡配合使用(yòng)，比如(rú) 數(shù)字化(huà)儀,₩Ω✔ RF射頻(pín)模塊，頻(pín)譜分(fēn)析$☆γ®儀模塊，數(shù)字功能(néng)模塊等搭建混合功能(né♦✘≈ng)測試系統，這(zhè)種搭配使用(yòng)采 ∞&★用(yòng)的(de)多(duō)核效率高(gāo)，同時(shí)響應快♦★>(kuài). 另外(wài), 這(zhè)種模塊化(huà)，集¥×成化(huà)多(duō)通(tōng)道(dào)的(de)♥"功能(néng)，可(kě)以對(duì)多(duō)個(gè)器(qì)件↕™(jiàn)進行(xíng)并性測試，從(cónδ​g)而提高(gāo)測試産量.

   UI-X6330單張闆卡，集成有∏ ✘☆(yǒu)電(diàn)源功能(néng)，高(gāo)♥☆↓精度源灌功能(néng)，以及讀(dú)寫✘✔♣快(kuài)速響應功能(néng). 這(zhè) ∑‌≥個(gè)高(gāo)精度模塊可(kě)以實現(x♠♦ iàn)高(gāo)電(diàn)壓同時(shí)電(diàn)流♣  ↑測試，而且，在保持高(gāo)精度的(de)同時(shí<€)還(hái)具有(yǒu)高(gāo)響應速率和(hé)高(gāo)采•♠♥→樣率，能(néng)快(kuài)速發送和(hé)快♥₩(kuài)速測量，甚至可(kě)以通(tōng)過波¶☆¥∞形的(de)方式表現(xiàn). 同時(shí)，闆卡配置了(le☆↔)繼電(diàn)器(qì)，隔離(lí)★↔效果好(hǎo)，有(yǒu)被測器(qì)件(jiàn)與測試闆卡&↕₩之間(jiān)的(de)隔離(lí)保護功能(néngφφ),闆卡具有(yǒu)remote sense功能(néng)，®<→能(néng)夠進行(xíng)測試中的(de)校(♥ ♣∏xiào)準補償，保護小(xiǎo)信号完整性同時(shí)，減少(shǎ↔<✘αo)漏電(diàn)流的(de)産生(shēng)，準确度更高(gāo). ™£這(zhè)些(xiē)強大(dà)功能(néng♠≈ )能(néng)使得(de)UI-X6330應用(y↑★≥òng)到(dào)寬電(diàn)壓電(diàn)♥≥±流需求應用(yòng)，例如(rú)研發測試，參'✘&數(shù)測試，功能(néng)測試，量産測試，可(kě)以搭配$$π★測試RF，混合IC, ATE, 數(shù)據采集, 及控制(zhì)系統等.λα≈φ 

 特點

支持中标麒麟系統驅動和(hé)軟件(jiàn)開(kāi)發平台

标準PXI 3U總線接口，并且兼容混合插槽機(±♦€jī)箱接口

4個(gè)高(gāo)分(fēn)辨率高(gāo)​¥✔精度大(dà)功率電(diàn)壓源、電(d↓•✔iàn)流源輸出及測量通(tōng)道(dào)

支持加壓/測壓、加壓/測流、加流/測壓、加流± ↑α/測流操作(zuò)。

16bit的(de)電(diàn)壓和(hé)電(diφ >àn)流輸出分(fēn)辨率。

18bit的(de)電(diàn)壓和(hé)電(diàn)流測量分( ≈"fēn)辨率。

7個(gè)電(diàn)流檔位可(kě)選。

可(kě)編程的(de)電(diàn)壓鉗位及電(diàn)流鉗位功能(n¥≥★>éng)

多(duō)塊闆卡及多(duō)個(gè₩™≥↑)通(tōng)道(dào)的(de)同步采集功能(nénλ★αg)

每個(gè)通(tōng)道(dào)獨立的(de)輸入輸出斷開(kāi↑β)繼電(diàn)器(qì)

備用(yòng)外(wài)部供電(diànλ∞¥)輸入

目标應用(yòng)

半導體(tǐ)測試

ASICs testing

ATE 數(shù)字測試

LED / 激光(guāng)二極管